2008-04-10 07:55:59

［메디컬투데이 이상백 기자］ 인슐린에 대한 반응성 손상이 알츠하이머질환 발병과 연관됐다는 연구가 발표돼 주목된다.

  10일 스웨덴 연구팀이 '신경학저널'에 발표한 50세 연령에 당부하검사(glucose tolerance test)를 받은 2269명의 자료를 분석한 결과 이 같이 나타났다.

  32년간에 걸쳐 진행된 이번 연구에서 394명에서 치매나 정신기능 손상이 발생했고 이 중 102명이 알츠하이머질환, 57명이 혈관성치매로 확진된 가운데 연구시작당시 정맥투여 혈당에 대한 인슐린 반응이 낮았던 사람에서 알츠하이머질환 발병 위험이 약 30% 가량 높은 것으로 나타났다.

  연구팀은 이 같은 연구결과 인슐린에 대한 반응성이 떨어지는 사람의 경우 알츠하이머질환 발병 위험이 높을 수 있다고 밝혔다.

  반면 내당장애(impaired glucose tolerance)는 혈관성치매와 연관된 것으로 나타난 반면 알츠하이머질환과는 연관성이 없는 것으로 나타났다.

  이번 연구결과 치매가 없는 사람에 있어서 전체적인 치매와 인지능 저하 위험은 공복시 혈청내 인슐린 증가및 인슐린 내성, 인슐린 분비능 손상, 혈당불내성과 연관된 것으로 나타났다.

메디컬투데이 이상백 기자 (lsb3002@mdtoday.co.kr)